A Low Temperature Cell for High Frequency Electrophysical M… — КазНУ

A Low Temperature Cell for High Frequency Electrophysical Measurements of Semiconductor Devices

2021 · Article

Год публикации

2021

Источник: Instruments and Experimental Techniques

DOI: 10.1134/S0020441221050146

Scopus: Открыть в Scopus

Цели устойчивого развития (2025)

SDG 7

Области знаний

Instrumentation