Aluminum metaphosphate-derived CEI suppresses interfacial degradation of NCM811 at 4.5 V and 60 °C

Авторлар

• Shi, M.
• Yu, J.
• Xie, W.
• Huang, M.
• Wang, X.
• Li, Z.
• Shen, C.
• Mussabek, G.
• Yar-Mukhamedova, G.
• Xie, K.

Білім салалары